在TFM全聚焦超声检测中，在探头阵元和任一给定的聚焦点之间，由于纵波和横波以及在界面和缺陷处可能存在波型转换，导致存在大量的声束路径或模式。通常存在三种路径或模式：直射模式direct modes（LL，LT，TL， TT），其中，这些路径中声束未经过界面反射；端角回波模式corner echo modes（半跨距全聚焦）（LLL，LLT，LTL，……），其中发射的声波与缺陷作用之前，经由底面反射；以及间接模式indirect modes（LLLL，LLLT，LLTL，……），声波在与缺陷作用之前和之后，都经过了底面反射。

    但是，并非所有的模式都是有用的。确实，某些模式能够提供缺陷的一些相关信息，某些模式却能产生伪影，从而给TFM图像的分析带来了困难。

1.1 伪影的产生

以下采用如图1所示的检测配置，观察产生的影像。被检测的工件为平板，厚度为30mm，两侧平行，材质为各向同性的钢，采用的探头为64L5-G3，阵元数为64，P=0.6mm，中心频率为5MHz的探头，采用的仪器型号为Gekko 64:64 PR（64TFM），如图1所示。本实验旨在观察缺陷的特性与使用的声束路径（即图像的重构模式），对TFM成像的影响。

fig. 1检测的配置

采用8种端角回波模式，对距离底部5mm、自身高度为10mm的裂纹的影像进行重构，详见图2所示。

其中，L代表纵波，T代表横波

fig. 2端角回波模式的全聚焦成像

 实验证明，缺陷影像的重构取决于重构的回波模式，与预期结果相同。在这个实验中，使用了8种可以重构影像中的3种模式（TTT，TLL，LLT），即使这些模式并非是最适合重构影像的，并且会产生伪影。其他模式，在尖端产生了衍射，还有些模式，只会产生伪影，它们看起来像缺陷，增加了缺陷误判的风险，并且，其幅值很高，能够掩盖真正的缺陷指示。

1.2原因分析：

a. 相同模式下，声时（time of flight，即声波传播所需要的时间）的非唯一性

在TFM成像中，声时并非唯一。实际上，在同一模式下，我们具有等时的椭圆曲线，这些曲线上的点具有相同幅值相关联的特性。如果某些点处存在缺陷，则所有幅值相干叠加，TFM的振幅增加。否则，它就消失了。但是，在某些设置下，相控阵阵元并非足够的散开，或者如果缺陷的长度相对于探头的孔径非常大，声波相互干涉不足，不能使得缺陷位置之外的幅值完全相消，因此，图像的质量很差。

b. 不同模式下声时的非唯一性

对于两个不同模式的声波，声时也是有可能相等的，产生的效果也可能相同。在这种情况下，对于给定的模式，在指定的位置出现的指示，也会在其它地方出现。当伪影是由缺陷产生时，我们可以看到一些类似于缺陷的回波，如图2所示，并且当它是反射回波产生时，在某些情况下，其回波幅值非常高，特别是端角反射模式。

 在TFM的检测和设置中，是否需要分别考虑每种模式，对每种模式分别制作TCG曲线，从而实现对缺陷进行有效的定量，如长度的测量和当量尺寸的判定，小编个人认为是需要的，因为对于不同的模式，制作的TCG曲线是有差异的，检测灵敏度是不同的。在该实验中，后面几幅看起来像缺陷的影像，它们增加了误判影像的风险。因此，识别影像的真伪，对检测结果至关重要。

1.2 相关指示的识别

采用FMC/TFM技术，既对焊缝中的不连续性成像，也对焊缝几何结构特性进行了成像。为了识别几何特性的指示，则必须了解被检测工件的详细信息。

为了确定指示是否是相关指示（由不连续性产生），考虑指示相对应的噪声影像和幅值，评定指示的模式或干扰。

2.确定指示的位置和长度

2.1位置：

从采集的数据中，确定指示在平行于焊缝轴线，垂直于焊缝的轴线，以及在壁厚方向上的位置。

2.2长度：

根据使用的验收标准，确定指示的长度，如使用阈值或幅值下降的方法。后文中的视频，将详细介绍采用软件自带的幅值下降方法，确定指示的长度和高度。

3.指示的评定

3.1通则

根据规范，基于幅值、当量反射体尺寸或高度和长度，对指示进行评定。

3.2基于幅值评定

根据规定的验收等级或使用规定的幅值下降方法，对每个指示的最大幅值进行评定。

3.3基于高度评定

指示的高度指的是沿壁厚方向上的范围，通常从图像上获得其几何指示。鼓励使用衍射信号来识别指示的尖端。对于沿长度方向上，指示高度发生变化时，指示的高度应该在最大的范围处确定。

如果需要更精确的确定指示的高度，则可以使用额外的处理算法。